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ISBN 978-958-15-0534-0
Autor:Hernandez Martin, Jhon Alexander; Chaparro, José Mauricio
Editorial:Servicio Nacional de Aprendizaje / SENA Bogotá
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-12-26
Autor:Hernandez Martin, Jhon Alexander; Chaparro, José Mauricio
Editorial:Servicio Nacional de Aprendizaje / SENA Bogotá
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-12-26
ISBN 978-958-15-0533-3
Editorial:Servicio Nacional de Aprendizaje / SENA Bogotá
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-12-26
Metrologia Optica en la industria de fundicion de varillas corrugadas
Autor:Meziat Castro, Louis Philippe; Hernandez Martin, Jhon Alexander; Vanegas Castro, Jairo; Pérez Ortiz, Frank Edward; Leiva, Juan Carlos; Sanchez Isaza, Guillermo; Perilla, Jose ManuelEditorial:Servicio Nacional de Aprendizaje / SENA Bogotá
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-12-26
ISBN 978-958-783-841-1
Editorial:Universidad Nacional de Colombia
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-06-15
Medición de rugosidad 3D mediante métodos ópticos
Autor:Bahamon Cortes, Nelson; Herreño Cuestas, Fabian Alberto; Araque Salazar, Indy Zoraima; Cortés Rodriguez, Carlos JulioEditorial:Universidad Nacional de Colombia
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2019-06-15
ISBN 978-958-56773-0-2
Editorial:U.A.E. Instituto Nacional De Metrología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2018-09-06
Estrategia Nacional de Metrología
Autor:U.A.E. Instituto Nacional De Metrologia; Herrera Saavedra, Cristina; Cristancho Pinilla, Edwin Arvey; Pedraza Guevara, Erika Bibiana; Pineda Lizarazo, Yesid JavierEditorial:U.A.E. Instituto Nacional De Metrología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2018-09-06
ISBN 978-958-56773-1-9
Editorial:U.A.E. Instituto Nacional De Metrología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2018-09-06
Estrategia Nacional de Metrología
Autor:Pineda Lizarazo, Yesid Javier; Pedraza Guevara, Erika Bibiana; Cristancho Pinilla, Edwin Arvey; Herrera Saavedra, Cristina; U.A.E. Instituto Nacional De MetrologiaEditorial:U.A.E. Instituto Nacional De Metrología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2018-09-06
ISBN 978-958-56188-1-7
Colaborador:Fletscher Moreno, Sylvia Patricia; Pardo Martínez, Clara Inés; Briceño Bueño, Yolanda
Editorial:Observatorio Colombiano De Ciencia Y Tecnología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2017-03-15
Elementos claves de metrología en tres sectores: café, autopartes y cosméticos
Autor:Pardo Martínez, Clara Inés; Fletscher Moreno, Sylvia PatriciaColaborador:Fletscher Moreno, Sylvia Patricia; Pardo Martínez, Clara Inés; Briceño Bueño, Yolanda
Editorial:Observatorio Colombiano De Ciencia Y Tecnología
Materia:Metrología y estandarización
Publicado:2017-03-15
