Reseña

Los sistemas actuales embebidos permiten que la capacidad de muestreo sea cercana a las 50.000 por segundo, lo que da la oportunidad de llegar a la detección de anomalías micrométricas en figuras geométricas en cualquiera de las características mencionadas, la aplicación de una investigación científica como metodología aplicada permite realizar una visión general de tipo aproximativo respecto a la superficie real del objeto, de esta manera será posible la construcción de dispositivos multiparamétricos para la unificación de procesamientos de datos y sistemas embebidos como transición entre la metrología tradicional y la metrología óptica.