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Detalle
ISBN 978-958-56773-0-2

Estrategia Nacional de Metrología
Una apuesta por el mejoramiento de la calidad

Autores:U.A.E. Instituto Nacional De Metrologia
Herrera Saavedra, Cristina
Cristancho Pinilla, Edwin Arvey
Pedraza Guevara, Erika Bibiana
Pineda Lizarazo, Yesid Javier
Editorial:U.A.E. Instituto Nacional De Metrología
Materia:389 - Metrología y estandarización
Clasificación Thema::KJC - Estrategia empresarial
Público objetivo:General / adultos
Disponibilidad:Disponible
Estatus en catálogo:Próxima aparición
Publicado:2018-09-06
Número de edición:1
Número de páginas:60
Tamaño:21x27cm.
Encuadernación:Tapa blanda o bolsillo
Soporte:Impreso
Idioma:Español

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