Detalle
ISBN 978-958-634-078-6
Editorial:Editora Tempo Cultural
Materia:621 - Física aplicada
Publicado:1989-02-01
Número de edición:1
Número de páginas:112
Tamaño:13,5 x 20,5cm.
Precio:$600
Encuadernación:Tapa blanda o bolsillo
Soporte:Impreso
Idioma:Español / Castellano
Guía de Circuitos Integrados TT y Chos
| Autores: | Villoch, José María López Aparicio, David |
Materia:621 - Física aplicada
Publicado:1989-02-01
Número de edición:1
Número de páginas:112
Tamaño:13,5 x 20,5cm.
Precio:$600
Encuadernación:Tapa blanda o bolsillo
Soporte:Impreso
Idioma:Español / Castellano
Libros relacionados
Mecanismos planos: análisis gráfico, vectorial y de número complejo - Torres Barahona, Edgar Absalon; Cárdenas Correa, Edwin Francis
Mecanismos planos: análisis gráfico, vectorial y de número complejo - Torres Barahona, Edgar Absalon; Cárdenas Correa, Edwin Francis
Reactor a escala Auger para pirólisis rápida de biomasa agroindustrial para la obtención de biocombustibles con fines investigativos - Pedraza Yepes, Cristian Antonio; Higuera Cobos, Oscar Fabián; Albis Arrieta, Alberto Ricardo
Reactor a escala Auger para pirólisis rápida de biomasa agroindustrial para la obtención de biocombustibles con fines investigativos - Pedraza Yepes, Cristian Antonio; Higuera Cobos, Oscar Fabián; Albis Arrieta, Alberto Ricardo
Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales - Bustos Rodríguez, Humberto; Oyola Lozano, Dagoberto; Rojas Martínez, Yebrail Antonio
Mecanismos planos: análisis gráfico, vectorial y de número complejo - Torres Barahona, Edgar Absalon; Cárdenas Correa, Edwin Francis
Reactor a escala Auger para pirólisis rápida de biomasa agroindustrial para la obtención de biocombustibles con fines investigativos - Pedraza Yepes, Cristian Antonio; Higuera Cobos, Oscar Fabián; Albis Arrieta, Alberto Ricardo
Reactor a escala Auger para pirólisis rápida de biomasa agroindustrial para la obtención de biocombustibles con fines investigativos - Pedraza Yepes, Cristian Antonio; Higuera Cobos, Oscar Fabián; Albis Arrieta, Alberto Ricardo
Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales - Bustos Rodríguez, Humberto; Oyola Lozano, Dagoberto; Rojas Martínez, Yebrail Antonio
