Guías prácticas para la calibración de instrumentos de medición
Autor:Bedoya Cardona, Nelson de Jesús; Yepes Mejía, Over Willer; Giraldo Jaramillo, Luis Fernando; Palacio Morales, Jairo Alonso; Restrepo Díaz, JaimeMetrología. Aseguramiento metrológico industrial. Tomo I
Autor:Restrepo Díaz, JaimeMetrología. Aseguramiento metrológico industrial. Tomo II
Autor:Restrepo Díaz, Jaime