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ISBN 978-628-7670-67-9

Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Autor:Bustos Rodríguez, Humberto; Oyola Lozano, Dagoberto; Rojas Martínez, Yebrail Antonio
Editorial:Universidad del Tolima
Materia:Física aplicada
Publicado:2024-05-03
ISBN 978-628-7670-69-3

Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Autor:Bustos Rodríguez, Humberto; Oyola Lozano, Dagoberto; Rojas Martínez, Yebrail Antonio
Editorial:Universidad del Tolima
Materia:Física aplicada
Publicado:2024-05-03

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