Guías prácticas para la calibración de instrumentos de medición
Autor:Bedoya Cardona, Nelson de Jesús; Yepes Mejía, Over Willer; Giraldo Jaramillo, Luis Fernando; Palacio Morales, Jairo Alonso; Restrepo Díaz, JaimeGestión del conocimiento en auditorías, administración y gestión metrológica
Autor:Perdomo Charry, Wilder; Giraldo Mejía, Juan Camilo; Lopera Cardona, Jorge Alonso; Montoya Quintero, Diana María; Palacio Morales, Jairo Alonso; Bedoya Cardona, Nelson de Jesús